Исследователи из Национальной лаборатории Сандия проанализировали 6276 разъёмов фотоэлектрических систем, установленных на крышах зданий, чтобы изучить частоту и причины их отказов. Анализ показал, что основными причинами неисправностей являются малый радиус изгиба провода, сильное загрязнение разъёмов и ослабленные гайки. Группа из Национальных лабораторий Сандия Министерства энергетики США создала новый набор данных о сбоях фотоэлектрических разъёмов, используемых…